Wonderen onder gereflecteerde lichtverlichting: hoe hervormt de metallografische microscoop microscopische observatie?- Trojan (Suzhou) material technology Co., Ltd.

De sleutel tot de metallografische microscoop Het vermogen om op te vallen tussen vele microscopische observatietools ligt in zijn unieke gereflecteerde lichtverlichtingsmethode. Dit ontwerp verlaat de traditionele verzonden licht verlichtingsmodus en gebruikt in plaats daarvan de methode van het licht dat de verticale verlichting binnenkomt via een condensorlens, en bestraalt vervolgens het monster in een hoek van 45 graden na te zijn aangepast door het diafragma diafragma en het veld diafragma. Deze innovatie vereenvoudigt niet alleen het observatieproces, maar bereikt ook een kwalitatieve sprong in het observatie -effect.

De gereflecteerde lichtverlichtingsmethode zorgt voor de uniforme verdeling van het licht op het gehele monsteroppervlak. Onder traditioneel overgedragen lichtverlichting moet het licht het monster binnendringen, dus factoren zoals de dikte en dichtheid van het monster zullen de verspreiding van licht beïnvloeden, wat resulteert in ongelijke helderheid van het beeld. Onder de gereflecteerde lichtverlichtingsmethode wordt het licht alleen gereflecteerd op het monsteroppervlak, waardoor de ongelijke verdeling van licht veroorzaakt door interne factoren van het monster wordt vermeden. Dit ontwerp maakt het waargenomen beeld zeer consistent in helderheid en biedt een betrouwbaardere basis voor latere beeldanalyse en -verwerking.

Het schuin verlichte licht kan het monster dieper doordringen, waardoor de microscopische structuur in het monster duidelijker kan worden weergegeven. Onder traditionele overgedragen lichtverlichting, omdat het licht het hele monster moet binnendringen, wanneer het monster dik is of de interne structuur complex is, zal het licht sterk worden verzwakt en verspreid tijdens het propagatieproces, wat resulteert in vervaagde beelden. In de gereflecteerde lichtverlichtingsmodus wordt het licht bestraald op het monster in een hoek van 45 graden. De keuze voor deze hoek vermindert niet alleen de reflectie en verstrooiing van het licht op het monsteroppervlak, maar laat het licht ook een bepaalde penetratiediepte in het monster vormen, waardoor een meer gedetailleerde en echte microstructuur wordt onthuld.

Het ingenieuze ontwerp van de gereflecteerde lichtverlichtingsmodus heeft aanzienlijke verbeteringen gebracht in het observatie -effect van de metallografische microscoop. Dit wordt niet alleen weerspiegeld in de uniformiteit van beeldhelderheid, maar ook in de beeldhelderheid, contrast en resolutie.

In termen van helderheid zorgt de gereflecteerde lichtverlichtingsmodus voor de uniforme verdeling van licht op het gehele monsteroppervlak, waardoor de ongelijke helderheid van het beeld veroorzaakt door ongelijke lichtverdeling wordt vermeden. Dit ontwerp maakt het waargenomen beeld zeer consistent in helderheid en biedt een betrouwbaardere basis voor daaropvolgende beeldanalyse en -verwerking. Vanwege de hoge reflectie -efficiëntie van het licht op het monsteroppervlak, kan de metallografische microscoop ook goed presteren bij het observeren van donkere of meer reflecterende monsters.

In termen van duidelijkheid kan het schuin verlicht licht het monster dieper doordringen, waardoor een meer gedetailleerde en realistische microstructuur wordt onthuld. Dit ontwerp geeft de metallografische microscoop een aanzienlijk voordeel bij het observeren van monsters met complexe interne structuren. In de metallografische analyse van metaalmaterialen kan de metallografische microscoop bijvoorbeeld duidelijk de morfologie, grootte en verdeling van korrels waarnemen, wat een belangrijke basis biedt voor de evaluatie van materiaaleigenschappen en de optimalisatie van procesparameters.

In termen van contrast en resolutie presteert de gereflecteerde lichtverlichtingsmethode ook goed. Vanwege de hoge reflectie -efficiëntie van het licht op het monsteroppervlak, kan de metallografische microscoop ook een hoog contrast vertonen bij het observeren van monsters met lichte structurele verschillen. Vanwege de matige penetratiediepte van licht in het monster, kan de metallografische microscoop ook een hoge resolutie behouden bij het observeren van dikkere monsters.

Met zijn unieke gereflecteerde lichtverlichtingsmethode en een significante verbetering van het observatie -effect, heeft de metallografische microscoop brede toepassingsperspectieven aangetoond op het gebied van materiaalwetenschap en industriële testen.

Op het gebied van materiaalwetenschappen worden metallografische microscopen veel gebruikt in metallografische analyse van metaalmaterialen, microstructuurobservatie van niet-metalen materialen en interface-onderzoek van composietmaterialen. Door de microstructurele kenmerken van materialen te observeren, kunnen wetenschappers een diep inzicht krijgen in het mechanisme waardoor factoren zoals materiaalprestaties, samenstelling en voorbereidingsproces de prestaties van het materiaal beïnvloeden, wat een belangrijke basis biedt voor de ontwikkeling van nieuwe materialen en de optimalisatie van de prestaties van bestaande materialen.

Op het gebied van industriële testen worden metallografische microscopen gebruikt om microscopische defecten zoals defecten, insluitsels en niet-metalen insluitsels in metaalmaterialen te detecteren. Deze defecten hebben vaak een belangrijke impact op de prestaties en levensduur van materialen. Door observatie en analyse met metallografische microscopen kunnen ingenieurs deze defecten onmiddellijk ontdekken en repareren om de kwaliteit en betrouwbaarheid van producten te waarborgen. Bovendien worden metallografische microscopen ook gebruikt om de warmtebehandelingseffecten, lassenkwaliteit en corrosieprestaties van metaalmaterialen te evalueren, wat een sterke ondersteuning biedt voor de optimalisatie en verbetering van de industriële productie.